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納米粒度電位儀在科學(xué)研究及工業(yè)應(yīng)用中以其精準(zhǔn)的測(cè)量能力和多方面的優(yōu)勢(shì)脫穎而出。以下是對(duì)其精準(zhǔn)測(cè)量能力及其優(yōu)勢(shì)的詳細(xì)解析：精準(zhǔn)的粒度測(cè)量：納米粒度電位儀能夠測(cè)量納米級(jí)顆粒的大小范圍，通常從幾納米到幾百納米不等。其高精度的測(cè)量能力，結(jié)合先進(jìn)的激光散射技術(shù)，確保了納米級(jí)顆粒大小的精確測(cè)定，滿足了各種納米材料尺寸測(cè)量的需求。高靈敏度的Zeta電位測(cè)量：除了粒度測(cè)量外，納米粒度電位儀還具有測(cè)量顆粒表面Zeta電位的功能。其Zeta電位測(cè)量范圍可達(dá)-600mV至+600mV，具有高靈敏度...

X射線熒光光譜儀是一種廣泛應(yīng)用于材料分析和質(zhì)量控制領(lǐng)域的儀器。它利用樣品受到X射線激發(fā)后所發(fā)射的熒光X射線的特征能量，來(lái)分析樣品的成分和元素含量。其工作原理基于X射線的特性和樣品的熒光發(fā)射。當(dāng)樣品受到高能X射線的激發(fā)時(shí)，樣品中的原子會(huì)吸收X射線的能量，并在吸收后重新排列電子結(jié)構(gòu)。在這個(gè)過(guò)程中，樣品會(huì)發(fā)射出特定能量的熒光X射線。通過(guò)測(cè)量和分析這些熒光X射線的能量和強(qiáng)度，可以確定樣品中的元素種類和含量。X射線熒光光譜儀的應(yīng)用范圍：1、環(huán)境監(jiān)測(cè)：在環(huán)境保護(hù)領(lǐng)域，XRF被廣泛用于監(jiān)測(cè)...

納米顆粒跟蹤分析儀是一種能夠?qū)崟r(shí)監(jiān)測(cè)納米顆粒動(dòng)態(tài)行為的儀器。該技術(shù)被廣泛應(yīng)用于納米材料研究、生物醫(yī)學(xué)、環(huán)境科學(xué)等領(lǐng)域。原理是利用激光束照射樣品，觀察樣品中納米顆粒的布朗運(yùn)動(dòng)，并通過(guò)圖像處理技術(shù)對(duì)顆粒的位置進(jìn)行跟蹤。通過(guò)采集大量顆粒的位置信息，可以得到顆粒的大小、濃度、形狀等信息。使用納米顆粒跟蹤分析儀的操作流程通常包括樣品制備、儀器預(yù)熱、樣品注入、數(shù)據(jù)采集等步驟。樣品制備的要求較高，需要避免樣品中存在大顆粒和異物干擾。在數(shù)據(jù)采集后，可通過(guò)分析軟件對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，如計(jì)算平均直徑...

本文摘要對(duì)于激光衍射測(cè)量技術(shù)來(lái)說(shuō)，方法開發(fā)的優(yōu)化，對(duì)結(jié)果的可靠性至關(guān)重要。但是我們中有多少人能夠確保每個(gè)標(biāo)準(zhǔn)操作程序(SOP)都盡善盡美？Mastersizer3000+的SOPArchitect功能，能從各個(gè)維度為方法開發(fā)提供指導(dǎo)，降低偏離最佳方案的風(fēng)險(xiǎn)。這使得標(biāo)準(zhǔn)方法的建立更加可靠、不易出錯(cuò)，并大大減少監(jiān)管的時(shí)間。消除方法開發(fā)中的錯(cuò)誤粒度檢測(cè)方法開發(fā)的過(guò)程中，面對(duì)一種新的樣品類型，無(wú)法快速確定各類參數(shù)的正確設(shè)置和測(cè)量方法的適用性，通過(guò)查閱資料尋求解決方案，又需要花費(fèi)大量的...

備受好評(píng)的云答疑活動(dòng)告一段落，我們擇選了部分激光粒度儀Mastersizer3000云答疑活動(dòng)中客戶提出的常見(jiàn)問(wèn)題，并配以應(yīng)用專家的回答分段放送，以期幫助您優(yōu)化儀器使用和方法開發(fā)工作。問(wèn)：石墨粒度檢測(cè)的表面活性劑選用哪一種好一些？答：大多數(shù)石墨用CA630（NP40）分散效果還不錯(cuò)。但要注意表活不能加多，通常2-5%加3-4滴潤(rùn)濕樣品即可。問(wèn)：激光粒度儀激光強(qiáng)度在80%左右，但有時(shí)候會(huì)很低，出現(xiàn)不能對(duì)光是怎么回事呢？答：因?yàn)闆](méi)有對(duì)光，所以才會(huì)激光強(qiáng)度低，需要檢查鏡片狀態(tài)，清潔...